在材料科學(xué)、化工、制藥及環(huán)境監(jiān)測(cè)等眾多領(lǐng)域，顆粒物質(zhì)的粒度與粒形特性對(duì)產(chǎn)品性能、工藝優(yōu)化及質(zhì)量控制起著決定性作用。濟(jì)南微納顆粒技術(shù)有限公司生產(chǎn)的Winner2000激光粒度粒形分析儀，憑借其優(yōu)秀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，成為行業(yè)顆粒檢測(cè)的**設(shè)備。

一、三檔測(cè)試技術(shù)：精準(zhǔn)聚焦顆粒分布

Winner2000激光粒度粒形分析儀創(chuàng)新性地采用三檔測(cè)試技術(shù)，可根據(jù)樣品粒度分布特性靈活切換測(cè)量范圍（0.1-40μm、0.6-120μm、1-300μm）。這一設(shè)計(jì)解決了傳統(tǒng)儀器單一量程難以兼顧寬分布與高分辨率的矛盾。例如，在水泥行業(yè)，通過(guò)三檔測(cè)試技術(shù)可同時(shí)實(shí)現(xiàn)微米級(jí)熟料顆粒的精細(xì)分析與毫米級(jí)砂石骨料的快速檢測(cè)，為配比優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

二、全內(nèi)置分散系統(tǒng)：穩(wěn)定保障測(cè)試可靠性

設(shè)備搭載的全內(nèi)置循環(huán)分散系統(tǒng)，通過(guò)超聲、攪拌與循環(huán)泵協(xié)同作用，解決了大顆粒二次沉淀問(wèn)題。超聲頻率40kHz、功率35W的配置，結(jié)合0-3000rpm可調(diào)轉(zhuǎn)速的機(jī)械攪拌，使樣品在350mL容量樣品池中形成均勻穩(wěn)定的懸浮體系。在陶瓷材料檢測(cè)中，該系統(tǒng)可確保納米級(jí)氧化鋁顆粒與微米級(jí)基體材料同步分散，避免因團(tuán)聚導(dǎo)致的測(cè)量誤差。

三、無(wú)約束自由擬合技術(shù)：真實(shí)還原顆粒分布

依托微納公司自主研發(fā)的無(wú)約束自由擬合算法，儀器突破傳統(tǒng)函數(shù)限制，直接基于Mie散射理論反演顆粒真實(shí)分布。在生物醫(yī)藥領(lǐng)域，該技術(shù)可準(zhǔn)確區(qū)分疫苗制劑中不同粒徑的抗原顆粒與輔料，D50重復(fù)性誤差＜0.5%（符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品驗(yàn)證），為藥物遞送系統(tǒng)開(kāi)發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。

四、先進(jìn)光路設(shè)計(jì)：提升亞微米檢測(cè)精度

采用會(huì)聚光傅里葉變換光路，配合76×3通道高靈敏度探測(cè)器，顯著增強(qiáng)了對(duì)亞微米顆粒的分辨能力。激光器選用He-Ne激光源（λ=632.8nm，功率＞2mW，壽命＞25000h），結(jié)合±0.5%的波長(zhǎng)穩(wěn)定性，使儀器在電子材料檢測(cè)中可精確識(shí)別50nm級(jí)半導(dǎo)體顆粒的粒徑波動(dòng)，助力芯片制造工藝優(yōu)化。

五、智能操作模式：簡(jiǎn)化流程提升效率

設(shè)備內(nèi)置的智能操作系統(tǒng)可自動(dòng)完成進(jìn)水、分散、測(cè)試等步驟，單次測(cè)量時(shí)間＜2min。軟件支持自由分布、R-R分布等四種分析模式，兼容體積分布與數(shù)量分布兩種統(tǒng)計(jì)方式。用戶可通過(guò)自定義分析功能，根據(jù)粒徑區(qū)間快速計(jì)算百分比分布，在礦物加工中可實(shí)時(shí)指導(dǎo)浮選工藝參數(shù)調(diào)整，提升選礦回收率。

六、多語(yǔ)言支持與數(shù)據(jù)管理：適應(yīng)全球化需求

提供中英文雙界面及自定義語(yǔ)言嵌入功能，滿足跨國(guó)企業(yè)使用需求。測(cè)試報(bào)告支持Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種格式導(dǎo)出，便于科研論文引用與生產(chǎn)數(shù)據(jù)追溯。在跨國(guó)藥企的質(zhì)量控制體系中，該功能可確保不同地區(qū)實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化管理。

Winner2000激光粒度粒形分析儀通過(guò)技術(shù)創(chuàng)新，將測(cè)量范圍、精度、效率與智能化水平提升至行業(yè)新高度。其三檔測(cè)試技術(shù)與全內(nèi)置分散系統(tǒng)的結(jié)合，解決了寬分布顆粒檢測(cè)的難題；無(wú)約束擬合算法與先進(jìn)光路設(shè)計(jì)，則為納米級(jí)顆粒分析提供了可靠手段。在材料研發(fā)、生產(chǎn)控制及環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域，該儀器正持續(xù)推動(dòng)顆粒檢測(cè)技術(shù)的進(jìn)步，為行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展注入核心動(dòng)力。